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上颌腭侧咀嚼黏膜厚度与腭穹窿形态的cbct研究

Assessment of the thickness of palatal masticatory mucosa and its association with palatal vault morphology using cone-beam computed tomography

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收录情况: ◇ 统计源期刊

单位: [1]北京 北京大学口腔医院门诊部牙周科,100034 [2]首都医科大学附属北京友谊医院口腔科,100050
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关键词: 锥形束CT(CBCT) 腭侧咀嚼黏膜 腭穹窿形态

摘要:
目的:测量汉族人群上颌腭侧咀嚼黏膜厚度,并探讨其与腭穹窿形态间的关系。方法:采用CBCT测量22名受试者上颌尖牙至第二磨牙腭侧正中距离龈缘3、6、9、12 mm处黏膜厚度及腭穹窿宽高比。每名受试者测试42个位点。结果:上颌腭侧黏膜随着距离龈缘越远而逐渐增厚。在距离腭侧龈缘6、9、12 mm处,前磨牙区黏膜厚度明显高于第一磨牙(P(0.05)。在距第二磨牙龈缘9 mm处,高腭穹窿组黏膜厚度低于低腭穹窿组(P(0.05)。结论:腭侧软组织瓣的供区范围以前磨牙区为主。对于低腭穹窿者,采集移植瓣的宽度应适当缩窄,范围可适当向第一磨牙远中延伸;而对于高腭穹窿者,移植瓣的宽度可适当增加,范围可适当向尖牙近中延伸。

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第一作者:
第一作者单位: [1]北京 北京大学口腔医院门诊部牙周科,100034
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